 |
 |
 |
|
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||||||||||||
| 【 PDF版プログラム 】 |
| 【 参加申込フォーム 】 |
| 【 事前配布PDF資料 】 (約4.7MB) |
| 主 催 | （公社）日本分析化学会近畿支部、近畿分析技術研究懇話会 |
| 協 賛 | （公社）化学工学会関西支部、（一社）近畿化学協会、（公社）日本化学会近畿支部、（公社）有機合成化学協会関西支部、関西分析研究会 |
| X線分析はエレクトロニクス，環境，エネルギーなどさまざまな産業分野における材料分析に広く利用されています。近年では半導体や電子製品の小型化や高機能化に伴い，薄膜デバイスの特性評価や製品管理にもX線分析が不可欠となっています。本講習ではX線分析の基礎と薄膜分析について，講義と実習を通して学んでいただきます。X線回折法（XRD），X線反射率法（XRR），蛍光X線分析法（XRF）を用いて，膜厚，密度，組成，ラフネス，結晶，配向など薄膜物性の相補的な分析を行います。X線分析の例として、薄膜分析を行う際の測定条件設定のポイントや解析方法を学んでいただきます。 | |
| 期 日 | 平成28年7月22日（金）10:00～17:00 （受付 9:30～） |
| 会 場 | （株）リガク 大阪支社・大阪工場 ［大阪府高槻市赤大路町14-8，TEL：072-693-3800] ＜交通＞JR「摂津富田」駅下車徒歩20分／タクシー2km以内，阪急「総持寺」駅下車徒歩8分 |
| 講習内容 | １．講義 「X線分析法概論」 （10:10～11:00） 京都大学大学院工学研究科 河合 潤 氏 |
| ２．講義 「めっき・表面処理分野における表面・界面分析 ～防食技術からエレクトロニクス実装まで～」 （11:10～12:00） （地独）大阪市工業研究所電子材料研究部 小林 靖之 氏 |
|
| ３．実習 （13:00～16:30） （株）リガク 大渕 敦司 氏，森川 千晶 氏，高原 晃里 氏，日下部 寧 氏 実習項目（予定） ・X線回折法（XRD）およびX線反射率法（XRR）による薄膜分析法 ・波長分散型蛍光X線分析法（WDXRF）による薄膜分析法 |
|
| ４．質疑応答（16:30～17:00） | |
| *参加者には事前に電子メールにてPDF資料を送付、必要に応じて当日に簡易コピーを配布します。 *当日はテキストの配布は行いませんので、各自でPDFを印刷して持参してください。 *講習会を受講し、所定の認定条件を満たした方には、日本分析化学会近畿支部「ぶんせき講習会受講認定証」を付与します。 *主催者側で昼食を用意します。 |
|
| 参 加 費 | 主催・協賛団体所属会員10,000円 学生 5,000円 会員外20,000円（何れも昼食代含む） |
| 申込締切 | 7月15日（金）、但し、定員（32名）になり次第締切 （7月16日以降のキャンセルは不可) |
| 申込方法 | 【参加申込フォーム】、または「2016年度ぶんせき講習会 実践編」と題記し、1)氏名、2)勤務先（所属）、3)連絡先（住所、郵便・電話・FAX番号、E-mail）、4)会員資格、5)送金内容（金額、送金予定日)、6)請求書の要否を明記のうえ、E-mail、FAX等にて下記宛てにお申し込みください。なお、参加費は銀行振込（「りそな銀行 御堂筋支店 普通預金 No.2340726 公益社団法人日本分析化学会近畿支部 名義」）をご利用ください。 |
| *参加決定者には参加費の振り込みを確認後、参加証をメールにて送付いたします。当日、この参加証を持参してください。 *参加決定者には団体傷害保険に加入していただきます。保険料は参加費に含まれます。 *同業者のお申込みの場合には，午後の実習を遠慮していただく場合がありますことをご了解ください。 |
|
| 申込先 | （公社）日本分析化学会近畿支部 〒550-0004 大阪市西区靭本町1-8-4 大阪科学技術センター6階 電話：06-6441-5531、FAX：06-6443-6685 E-mail：mail［atmark］bunkin.org メールをお送り頂く際は［atmark］を@に変えて下さい。 |
| ※「基礎編その2-電子天びん・pHメータの原理と使い方」は6/24（金）, 於：（株）島津製作所・関西支社(梅田）、「発展編-光ピンセットの基礎と分析化学への実践的応用」は11月頃、於：大阪市立大学 をそれぞれ予定しています． | |
| (C) Copyright The Japan Society for Analytical Chemistry, The Kinki Branch |