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| 【 PDF版プログラム 】 |
| 【 参加申込フォーム 】 |
| 【 事前配布PDF資料 】 (テキストダウンロード / ID.PW.要） |
| 主 催 | （公社）日本分析化学会近畿部、近畿分析技術研究懇話会 |
| 協 賛 | （公社）化学工学会関西支部、（一社）近畿化学協会、（公社）日本化学会近畿支部、（公社）有機合成化学協会関西支部、関西分析研究会 |
| 走査型電子顕微鏡(SEM)及び蛍光X線分析装置（XRF）はエレクトロニクス，環境，エネルギー, 医療などさまざまな分野における材料分析に広く利用されています。近年，材料の機能化の必要性から，材料の複合化や微小化が進み，材料表面の形態，化学状分析，マッピングによる物質の分布解析の重要性が大きく増大しています。本講習ではSEM及びXRF分析の基礎と実例について，講義と実習を通して学んでいただきます。SEM及びXRF分析を行う際の測定条件設定のポイントや解析方法を修得できます。 | |
| 期 日 | 2018年7月13日（金）9:50～17:00 （受付 9:30～） |
| 会 場 | 日本電子（株）（JEOL） 西日本ソリューションセンター ［大阪市淀川区西中島5-14-5 ニッセイ新大阪南口ビル1階，電話：06-6305-0105] ＜交通＞JR新大阪駅 中央口 徒歩5分,または地下鉄御堂筋線 新大阪駅南口（7番出口） 徒歩2分 |
| 講習内容 | １．講義 「SEM及びXRFの基礎」（9:50～11:00） 日本電子（株） 藤田 憲市 氏 |
| ２．講義「FE-SEM およびEDSを用いた電池材料解析」（11:10～11:50） 奈良工業高等専門学校 山田 裕久 氏 |
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| ３．講義「卓上型蛍光Ｘ線分析装置の紹介と適用例」（11:50～12:30） 大阪市立大学大学院工学研究科 辻 幸一 氏 |
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| ４．実習（13:45～16:45） 日本電子（株） 藤田 憲市 氏 実習項目 ・SEMのための試料前処理方法,微小領域分析 ・SEM-EDSによる元素分析とマッピング ・XRFによる元素分析 |
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| ５．質疑応答（16:45～17:00） | |
| ※参加者には事前に電子メールにてPDF資料を送付します。 ※当日のテキストについては，各自でPDFを印刷しての持参，あるいはタブレット等での準備をお願いします。 講義1のテキストについてのみ，当日, 配布します。 ※ご昼食は用意しません。会場周辺の飲食店等をご利用ください。 ※同業者のお申込みの場合には，ご遠慮していただく場合がありますことをご了解ください。 |
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| 参 加 費 | 主催・協賛団体所属会員10,000円 学生 5,000円 会員外20,000円 （何れも消費税込） |
| 申込締切 | 7月5日（木）、但し、定員（30名）になり次第締切 （7月6日以降のキャンセルは不可) |
| 申込方法 | 【参加申込フォーム】よりお申込みください。 お申込み後, 自動返信メールが届きましたら, 「お申し込み翌日から開催日前日まで」に参加費のお支払いをお願い致します。参加費は銀行口座（りそな銀行御堂筋支店 普通預金 No.2340726，名義 公益社団法人日本分析化学会近畿支部）にお振り込みください。 |
| ※参加証と会場案内図・テキストダウンロード情報などをメールにて送付します。当日，この参加証を持参してください。 ※参加決定者には団体傷害保険に加入していただきます。保険料は参加費に含まれます。 |
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| 申込先 | （公社）日本分析化学会近畿支部 〒550-0004 大阪市西区靭本町1-8-4 大阪科学技術センター6階 電話：06-6441-5531、FAX：06-6443-6685 E-mail：mail［atmark］bunkin.org メールをお送り頂く際は［atmark］を@に変えて下さい。 |
| ※「発展編～全内部反射顕微分光計測法の基礎と応用～」を11/30（金），於：大阪大学，予定しています。 | |
| (C) Copyright The Japan Society for Analytical Chemistry, The Kinki Branch |